Vortrag Masterarbeit von Frau J. Ebersberger, Mo. 04.11.2019, 10:30 Uhr
Charakterisierung einer SiC-Halbbrücke zur chipflächenskalierten Dimensionierung eines Wechselrichters (IAL-Besprechungsraum H 021)
Charakterisierung einer SiC-Halbbrücke zur chipflächenskalierten Dimensionierung eines Wechselrichters (IAL-Besprechungsraum H 021)